SRS-NDVI 归一化植被指数测量仪 - 冠层尺度测量 - 北京力高泰科技有限公司

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SRS-NDVI 归一化植被指数测量仪

来源:力高泰 发布时间:2017-05-04 23:58:00 点击数: 使用提问咨询价格

光谱反射传感器SRS-NDVI测量仪可在近地面对冠层归一化植被指数(NDVI)进行长期定位监测。NDVI对绿色植被反应敏感,常被用于研究植被的生长状态。SRS-NDVI测量仪传感器制作工艺考究、坚固耐用,可在各种恶劣天气条件下正常工作;其体积小巧,安装简易方便;性价比高,可在多处布点。
 
工作原理

NDVI是由冠层对近红外波长(810nm)的反射率与红光波长(650nm)的反射率之差比上两者之和计算得到,因此需同时安装向上和向下两个传感器来监测冠层对这两个波长的反射率。

向上的SRS-NDVI传感器检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过余弦校正,具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空,没有冠层和其他地物。

向下的SRS-NDVI传感器也是检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在36°以内,这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。
冠层归一化植被指数
产品特点

  • 耗电量低
  • 性价比高
  • 支持SDI-12或DDI串行通讯协议
  • 自动测量、收集数据
  • 航海级环氧树脂密封工艺,可在湿热环境中长期使用
  • 若使用Em50G数据采集器,可通过互联网终端实现远程数据查看和下载

冠层归一化植被指数应用领域
  • 单株植物或群落冠层的归一化植被指数(NDVI)动态监测
  • 监测植被返青、衰老和受胁迫状态
  • 冠层有效辐射截获量
  • 冠层生长物候监测
  • 冠层叶面积指数
  • 冠层生物量积累




技术参数

NDVI 波段 波长峰值:650±2nm和810±2 nm,半峰宽(FWHM)均为10nm
准确度 优于光谱辐照度和辐亮度值的10%
分辨率 向上半球视野传感器为:0.0001 W m-2 nm-1
向下视场光阑传感器为:0.0001 W m-2nm-1 sr-1
电子光学组件 (1) 特氟龙余弦校正器,半球视野
(2) 视场光阑:视场范围36°
校准 符合美国国家标准及技术研究所标定标准(NIST traceable)光谱辐照度 (W m-2 nm-1) 或辐亮度 (W m-2 nm-1 sr-1)
测量时间 ~600 ms
尺寸 43×40×27mm
重量 传感器:47g,传感器带5m线:170g
供电 3.6 ~ 15 VDC, 测量期间(300ms)4 mA,待测期间30µA
工作温度 -40~50℃
缆线长度 标配5 m,可定制其它长度
接口类型 3.5 mm耳机接口或镀锡裸线接口
通讯 SDI-12 数字传感器
支持数采 Decagon Em50系列数采, ProCheck。CSI数采


订购指南

传感器:SRS-NDVI向上半球视野传感器,SRS-NDVI向下视场光阑传感器

数采:Em50或Em50G数据采集器。

可选配件

延伸臂:1m长铝管,可辅助固定传感器到基础设施上,能连接绝大多数方形或圆形位置以及直径2英寸以下的管子

多传感器固定架:可将多个传感器固定在一个支架上,推荐1个向上的传感器,以及3个以内向下传感器,向下传感器安装方向成90°夹角
冠层归一化植被指数  冠层归一化植被指数
另有SRS-PRI光化学反射指数传感器可选购。


产地与厂家:美国METER公司 (原Decagon)