光下最大叶绿素荧光Fm'是准确计算一系列荧光参数的基础，但为什么常常被低估？...
准确测量光下最大荧光产额Fm'是植物叶片荧光参数测量的重点和难点。Fm'的测量不准确将导致一系列相关荧光参数的错误计算，如非光化学淬灭系数NPQ和叶肉导度gm等。
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许多研究表明Fm'会随"饱和闪光"强度的增加而增大。PSII具有快速周转能力，传统"饱和闪光"技术无法将PSII反应中心受体侧完全还原，因此容易造成对于光下最大荧光产额Fm'的低估。解决方案是首先测量多个不同"饱和闪光"梯度下的表观AFm'， 进而建立"饱和闪光"强度的倒数与它的线性方程关系，求算当"饱和闪光"趋向于无穷大时对应的荧光产额Fm'。这种方法非常耗时，因此限制了其在实际测量中的应用。LI-COR公司研发出一项新技术Multiphase FlashTM，可以在一次短暂闪光过程中（～1s）快速测量多个闪光强度以及与之相对应的荧光产额AFm'，通过线性拟合准确推算EFm'。 |
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实验结果表明：（1）在不同"饱和闪光"强度下，通过Multiphase FlashTM方法推算得到的EFm'差异不显著且总是高于传统方法测量所得结果。通过EFm'计算得到的ΦPSII能比传统v技术测量结果高15-20%（下表）；（2）将EFm'计算得到的电子传递速率J与净光合速率AG建立线性方程，其斜率为4.7±0.2，即大约4.7个电子固定1个CO2，与理论值相符。
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在运用传统"饱和闪光"技术测量时需要假设过程速率常数（如kF, kD等）维持不变且没有触发副反应，而很多研究表明上述假设在高强度"饱和闪光"下不成立。Multiphase FlashTM技术可以在低强度"饱和闪光"下推算EFm'，最大程度上减少了这些副反应的发生，因此非常适用于那些可能会造成光损伤植物的荧光测定。
参考文献
Loriaux, S. D., T. J. Avenson, J. M. Welles, D. K. McDermitt, R. D. Eckles,B. Riensche and B. Genty. 2013. Closing in on maximum yield of chlorophyll fluorescence using a single multiphase flash of sub-saturating intensity. Plant, Cell& Environment. doi: 10.1111/pce.12115