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METER研讨会预告 ‖ 专家带您了解叶面积指数:理论、方法与应用

来源:北京力高泰科技有限公司 发布日期:2024-02-26 02:42:03 浏览次数:587

植物生理学专家Jeff Ritter解读叶面积指数的实际应用,以及如何将这些应用结合到生产实践中去。




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· 研讨会详情 ·

                                                                              

叶面积指数(LAI)在很多方面有着广泛的应用,包括:土地管理、生态学以及与GPP(总初级生产力)相关的许多方面。然而LAI的测量方法众多,如何选择最适宜的,或者最适合的方法就成为一个需要考虑的问题。选择中,如何权衡准确性和工作强度呢?来加入2024年2月28日的线上研讨会,一探究竟吧。


这次研讨会将讨论如下话题:

  • 什么是叶面积指数LAI

  • 为什么要测量LAI

  • 直接取样法,包括落叶收集法

  • 基于地面的间接方法,包括半球成像法

  • 透射与反射对比法

  • 卫星遥感方法

  • 方法的选择,如何权衡准确性与工作强度


· 主讲嘉宾 ·

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Jeff Ritter是METER Group的产品经理,负责植物、冠层及大气监测产品。他曾获华盛顿州立大学植物生理学硕士学位,研究方向是叶片表面气体交换,以及植物生物化学对全球碳循环测量的影响。Jeff Ritter还曾在华盛顿州立大学作物和土壤科学系担任研究教职。


· 如何参加 ·


您可以点击阅读原文,直接报名。


考虑到研讨会时间对中国地区不是很方便,我们会在研讨会结束后一段时间为您提供带中文字幕的研讨会回放,请添加力高泰在线咨询微信获取相关信息。

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